Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 4 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Hodnocení topografie povrchu strojních součástí pomocí optického profilometru
Vrána, Jakub ; Křupka, Ivan (oponent) ; Šperka, Petr (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá problematikou hodnocení topografie povrchů strojních součástí a měřením dat na optickém interferometru. Rešeršní část podává všeobecný přehled o hodnocení topografie povrchů a uvádí ho do souvislosti s předepsanými normami. V praktické části práce je proveden experiment, kdy se pomocí optického profilometru vyhodnocuje robustnost naměřených parametrů. V závěru jsou poznatky zrekapitulovány a zhodnoceny.
Pracoviště pro optickou interferometrii
Blecha, Martin ; Honec, Peter (oponent) ; Janáková, Ilona (vedoucí práce)
Tato práce je zaměřena na sestavení pracoviště určeného pro experimenty vycházející z optické interferometrie. Jsou zde popsány laboratorní úlohy sloužící pro demonstraci základních principů interferometrie. Podrobně je popsána metoda měření výškového profilu objektů metodou optické interferometrie v bílém světle.
Hodnocení topografie povrchu strojních součástí pomocí optického profilometru
Vrána, Jakub ; Křupka, Ivan (oponent) ; Šperka, Petr (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá problematikou hodnocení topografie povrchů strojních součástí a měřením dat na optickém interferometru. Rešeršní část podává všeobecný přehled o hodnocení topografie povrchů a uvádí ho do souvislosti s předepsanými normami. V praktické části práce je proveden experiment, kdy se pomocí optického profilometru vyhodnocuje robustnost naměřených parametrů. V závěru jsou poznatky zrekapitulovány a zhodnoceny.
Pracoviště pro optickou interferometrii
Blecha, Martin ; Honec, Peter (oponent) ; Janáková, Ilona (vedoucí práce)
Tato práce je zaměřena na sestavení pracoviště určeného pro experimenty vycházející z optické interferometrie. Jsou zde popsány laboratorní úlohy sloužící pro demonstraci základních principů interferometrie. Podrobně je popsána metoda měření výškového profilu objektů metodou optické interferometrie v bílém světle.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.